Im Oktober hat in Jerewan das XIV. East-West Design & Test Symposium-2016 staatgefunden. Das Symposium war den Problemen der Ausarbeitung und der Durchprüfung der Elektronik gewidmet. Im Rahmen des Arbeitstreffens wurden moderne Testrichtungen und Weisen der Diagnostik und Ausbesserung der mikroelektronischen Anlagen und Systemen behandelt. 

Dieses Jares haben am Symposium 175 hochqualifizierten Fachexperten der Industrie und Hochschulen von 31 Ländern der Welt teilgenommen. Staatliche Universität Pensa wurde vom Kandidat der technischen Wissenschaften, Dozenten der Abteilung für Radiogerätentwicklung und Produktion Alexei K. Grischko vertretet. A. Grischko hielt 4 Vorträge und beantwortete zahlreiche Fragen. Von anderen Kollegen wurde wirkliche Aktualität seiner Erforschungen betont.   

Unter führenden Vortragenden des Symposiums waren Vertreter der Firmen Xilinx, Synopsys, Qualcomm, Intel, IBM Research, und der berühmten Hochschulen wie Grenoble INP (Frankreich), die University of Louisiana (VS von Amerika),  Karlsruher Institut für Technologie (Deutschland), Chinesische Akademie der Wissenschaften (China).

Ausführliche Information über Symposium: http://ewdtest.com/conf/